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高清外觀檢測(cè)

HD Visaul檢測(cè)設(shè)備為1600萬(wàn)像素、1/2.33英寸圖像進(jìn)口松下CMOS圖像傳感器，視野寬于1/3英寸。 也可輸出HDMI 1080P 60幀圖像（相機(jī)分辨率4608*3456）。

最終功能測(cè)試

比較IC產(chǎn)品延遲輸出功能信號(hào)和高低電平電壓。 測(cè)量 MOSFET\Diode\TRANSISTOR\IGBT\TRIAC 的產(chǎn)品直流特性曲線和重復(fù)峰值反向電壓。

開/短路測(cè)試

要測(cè)試連接到 VSS 的下二極管，請(qǐng)使用 PMU 強(qiáng)制 施加大約 -100μA 的負(fù)電流。如果測(cè)量結(jié)果低于 -1.5V 以檢測(cè)開路，則將 PMU 的測(cè)試下限設(shè)置為失敗。

編程測(cè)試

有數(shù)百種不同的封裝測(cè)試插座和適配器來(lái)檢查各 種設(shè)備，包括市場(chǎng)知名的編程測(cè)試儀，例如：XEL TEK 7500 6100 3000U、SMARTPRO 5000U。

X-射線及ROHS測(cè)試

X-RAY設(shè)備可以確認(rèn)是否適合晶圓、引線鍵合和 芯片鍵合。ROHS測(cè)試可以通過(guò)產(chǎn)品引腳和光伏 設(shè)備的焊錫涂層來(lái)確認(rèn)是否環(huán)保。

化學(xué)分析

用丙酮、酒精、硝酸和硫酸作為分析的化學(xué)原料。 我們用丙酮按一定方向按固定次數(shù)擦洗組件表面， 以確保組件是否經(jīng)過(guò)再加工或返工。